Vysokovýkonná röntgenová optika pre metódu malouhlového rtg rozptylu pri šikmom dopade (GISAXS)
4. 12. 2022 | videné 88-krát
Pomocou simulácií metódou „ray tracing“ vychádzajúcich z dynamickej teórie rtg difrakcie bol navrhnutý a v spolupráci s firmou Integra, TDS , s. r. o., Piešťany, pripravený originálny monolitický rtg monochromátor Ge(111) pracujúci na princípe opakovanej asymetrickej difrakcie v kanáliku tvaru písmena V [1]. Originálnosť návrhu spočíva v spojení vysokej intenzity a vysokého kompresného pomeru výstupného rtg zväzku v jednom optickom prvku, čo umožňuje laboratórne merania malouhlového rtg rozptylu (SA XS) a SA XS pri šikmom dopade (GISA XS) s vysokou intenzitou a vysokým rozlíšením viacnásobne presahujúcim komerčné zariadenia. Tým sa otvára cesta k laboratórnym meraniam procesov na nanoškále v reálnom čase pomocou týchto metód, ktoré sa doteraz realizovali výlučne na synchrotrónoch. Realizácia tohto monochromátora bola možná vďaka pilotnej aplikácii metódy nanoobrábania povrchov SPDT (single point diamond turning) známej z infračervenej optiky, ktorú v spolupráci s firmou Integra, TDS , s. r. o., Piešťany, prvýkrát implementujeme do oblasti rtg vlnových dĺžok.
Fyzikálny ústav SAV
Riešitelia: Matej Jergel a kolektív
- VÉGSÖ, K. – JER GEL , M. – ŠIFFALO VIČ , P. – MAJKO VÁ, E. – KOR YTÁR , D. – ZÁPRA ŽNÝ , Z. – MIK ULÍK , P. – VAGOVIČ , P.: Towards High-Flux X-ray Beam Compressing Channel-Cut Monochromators, J. Appl. Cryst. 49 (2016), 1885-1892.
- ZÁPRA ŽNÝ , Z. – KOR YTÁR , D. – JER GEL , M. – ŠIFFALO VIČ , P. – HALAHO VETS , Y: Nano-machining for Advanced X-ray Crystal Optics, AIP Conf. Proc. 1764 (2016), 020005.