Elektrotechnický ústav SAV, v. v. i.
Názov témy
Štúdium a optimalizácia detektorov ionizujúceho žiarenia na báze širokopásmových polovodičov SiC a diamantu.
Program DŠ
Fyzikálne inžinierstvo
Rok prijímania
2024
Meno školiteľa/-ky
Mgr. Bohumír Zaťko, PhD
Kontakt:
Prijímajúca škola
Fakulta elektrotechniky a informatiky STU
Stručná anotácia
Práca sa zaoberá technológiou prípravy detektorov ionizujúceho žiarenia, štúdiom ich elektrických a detekčných vlastností a vplyvu radiačnej záťaže na ich charakteristiky. Detekčnými materiálmi sú vysokokvalitná epitaxná vrstva na báze 4H-SiC, polykryštalická a monokryštalická diamantová vrstva. V prvej fáze sa práca sústredí na návrh a prípravu rôznych typov detekčných štruktúr so Schottkyho kontaktom. Následne sa vykoná elektrická charakterizácia (IV a CV merania pri rôznych teplotách). SiC a diamant sú širokopásmové polovodiče schopné pracovať aj pri zvýšených teplotách. Vybrané vhodné detekčné štruktúry sa pripoja k nízkošumovej spektrometrickej aparatúre a vyhodnotia sa ich vlastnosti pri detekcii častíc nielen pri izbovej ale aj zvýšenej teplote. Štruktúry budú následne ožarované rôznymi dávkami ionizujúceho žiarenia generovaného elektrónmi, protónmi alebo neutrónmi a skúmané zmeny ich charakteristík. V závere sa vyhodnotí ich radiačná odolnosť a porovná so štandardnými detektormi na báze kremíka.
Práca bude realizovaná na ElÚ SAV, ktorý disponuje modernými technologickými zariadeniami potrebnými pre prípravu a testovanie polovodičových štruktúr. Doktorand získa znalosti z prípravy polovodičových štruktúr a bude aktívne zapojený do tímovej spolupráce v rámci domácich a medzinárodných projektov zaoberajúcich sa prípravou a testovaním detektorových štruktúr.
Práca bude realizovaná na ElÚ SAV, ktorý disponuje modernými technologickými zariadeniami potrebnými pre prípravu a testovanie polovodičových štruktúr. Doktorand získa znalosti z prípravy polovodičových štruktúr a bude aktívne zapojený do tímovej spolupráce v rámci domácich a medzinárodných projektov zaoberajúcich sa prípravou a testovaním detektorových štruktúr.