Informatici medzinárodne...
22. 4. 2008 | videné 816-krát
V dňoch 16.-18. apríla sa informatici z 25 krajín stretli v Bratislave na medzinárodnej konferencii IEEE DDECS 2008.
Stretnutie v Kongresovom centre hotela Bonbón pod názvom IEEE DDECS 2008 (Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems) bolo zamerané na metódy a algoritmy pre návrh, testovanie, spoľahlivosť elektronických obvodov a systémov. Organizátorom podujatia, ktoré sa každoročne organizuje v krajinách V4, bol Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied (ÚI SAV). V tomto roku bola konferencia podporená grantom Višegrádskeho fondu a známymi firmami orientovanými na témy konferencie: Analog Devices, ON Semiconductor, ASICentrum, Hewlett-Packard a Honeywell.
Bratislava prostredníctvom organizátorov privítala 120 účastníkov z univerzitných a industriálnych inštitúcií z 25 krajín Európy, Ameriky a Ázie. Program DDECS 2008 otvorili hlavní predstavitelia konferencie za účastí hostí - zástupcu Predsedníctva SAV Igora Túnyiho a predsedu Vedeckej rady ÚI SAV prof. Baltazára Frankoviča. DDECS 2008 otvoril Michel Renovell, zástupca francúzskeho CNRS. Program prezentoval Bernd Straube z Fraunhofer IIS/EAS z Nemecka.
Ceny za dva najlepšie príspevky z DDECS 2007, ktoré odovzdávali Andrzej Kraśniewski z Poľska a Elena Gramatová z ÚI SAV, prevzali Philipp Öhler, Sybille Hellebrand z Univerzity Paderborn, Hans Joachim Wunderlich z Univerzity Stuttgart v Nemecku aj Lukáš Ručkay a Jiří Nedvěd z ASICentra Praha a Českého vysokého učení technického v Prahe. Na programe DDECS 2008 spolupracovali Miloš Drutarovský z Technickej univerzity Košice a Raimund Ubar z Tallinskej technickej univerzity v Estónsku a ďalší odborníci z Európy a USA, členovia programového a riadiaceho výboru konferencie. Z Ústavu informatiky SAV konferenciu organizačne i programovo pripravovalo Oddelenie návrhu a diagnostiky digitálnych systémov pod vedením Márie Fischerovej.
Hlavnými myšlienkami prednášok pozvaných expertov z University of Massachusetts, ARM Ltd. a Q-Star Test boli trendy a problémy vo využívaní súčasných a budúcich technológií z hľadiska výskytu a modelovania defektov a ich testovania, ako aj inovácie návrhových metód pre udržanie kvality, ceny elektronických obvodov a systémov implementovaných v nových technológiách. Novým prvkom v jedenásťročnej histórii DDECS bolo zorganizovanie študentskej a industriálnych sekcií, o ktoré bol veľký záujem, či už zo strany odborníkov z univerzitných, akademických alebo industriálnych inštitúcií. Kvalita príspevkov, ktoré prešli päťnásobným recenzentským procesom a náročným výberom zo 116 podaných príspevkov z 32 krajín a troch kontinentov, bola veľmi vysoká. Potešiteľné je, že väčšinu príspevkov predniesli mladými ľuďmi, vrátane autorov zo Slovenska (zo Slovenskej technickej univerzity a Slovenskej akadémie vied). Z vybraných a recenzovaných príspevkov bol zostavený a vydaný zborník pod garanciou IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineering). Príspevky budú publikované aj v elektronickej knižnici IEEE eXplore.
Organizátorom sa za podpory členov medzinárodného riadiaceho a programového výboru podarilo počas troch dní vytvoriť podnetné prostredie pre získanie nových ideí pre výskumnú i aplikačnú sféru v oblasti rozvoja mikro a nano technológií, neformálny priestor pre diskusie, nadväzovanie pracovných kontaktov.
E. G.
Stretnutie v Kongresovom centre hotela Bonbón pod názvom IEEE DDECS 2008 (Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems) bolo zamerané na metódy a algoritmy pre návrh, testovanie, spoľahlivosť elektronických obvodov a systémov. Organizátorom podujatia, ktoré sa každoročne organizuje v krajinách V4, bol Ústav informatiky Slovenskej akadémie vied (ÚI SAV). V tomto roku bola konferencia podporená grantom Višegrádskeho fondu a známymi firmami orientovanými na témy konferencie: Analog Devices, ON Semiconductor, ASICentrum, Hewlett-Packard a Honeywell.
Bratislava prostredníctvom organizátorov privítala 120 účastníkov z univerzitných a industriálnych inštitúcií z 25 krajín Európy, Ameriky a Ázie. Program DDECS 2008 otvorili hlavní predstavitelia konferencie za účastí hostí - zástupcu Predsedníctva SAV Igora Túnyiho a predsedu Vedeckej rady ÚI SAV prof. Baltazára Frankoviča. DDECS 2008 otvoril Michel Renovell, zástupca francúzskeho CNRS. Program prezentoval Bernd Straube z Fraunhofer IIS/EAS z Nemecka.
Ceny za dva najlepšie príspevky z DDECS 2007, ktoré odovzdávali Andrzej Kraśniewski z Poľska a Elena Gramatová z ÚI SAV, prevzali Philipp Öhler, Sybille Hellebrand z Univerzity Paderborn, Hans Joachim Wunderlich z Univerzity Stuttgart v Nemecku aj Lukáš Ručkay a Jiří Nedvěd z ASICentra Praha a Českého vysokého učení technického v Prahe. Na programe DDECS 2008 spolupracovali Miloš Drutarovský z Technickej univerzity Košice a Raimund Ubar z Tallinskej technickej univerzity v Estónsku a ďalší odborníci z Európy a USA, členovia programového a riadiaceho výboru konferencie. Z Ústavu informatiky SAV konferenciu organizačne i programovo pripravovalo Oddelenie návrhu a diagnostiky digitálnych systémov pod vedením Márie Fischerovej.
Hlavnými myšlienkami prednášok pozvaných expertov z University of Massachusetts, ARM Ltd. a Q-Star Test boli trendy a problémy vo využívaní súčasných a budúcich technológií z hľadiska výskytu a modelovania defektov a ich testovania, ako aj inovácie návrhových metód pre udržanie kvality, ceny elektronických obvodov a systémov implementovaných v nových technológiách. Novým prvkom v jedenásťročnej histórii DDECS bolo zorganizovanie študentskej a industriálnych sekcií, o ktoré bol veľký záujem, či už zo strany odborníkov z univerzitných, akademických alebo industriálnych inštitúcií. Kvalita príspevkov, ktoré prešli päťnásobným recenzentským procesom a náročným výberom zo 116 podaných príspevkov z 32 krajín a troch kontinentov, bola veľmi vysoká. Potešiteľné je, že väčšinu príspevkov predniesli mladými ľuďmi, vrátane autorov zo Slovenska (zo Slovenskej technickej univerzity a Slovenskej akadémie vied). Z vybraných a recenzovaných príspevkov bol zostavený a vydaný zborník pod garanciou IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineering). Príspevky budú publikované aj v elektronickej knižnici IEEE eXplore.
Organizátorom sa za podpory členov medzinárodného riadiaceho a programového výboru podarilo počas troch dní vytvoriť podnetné prostredie pre získanie nových ideí pre výskumnú i aplikačnú sféru v oblasti rozvoja mikro a nano technológií, neformálny priestor pre diskusie, nadväzovanie pracovných kontaktov.
E. G.