Aktuality

Medzinárodný tím, v ktorom pôsobili aj výskumníci z Fyzikálneho ústavu SAV zverejnili svoj nový výskum v magazíne Nature Physics (DOI: 10.1038/NPHYS4083). Ako vôbec prví dokázali odmerať vektorové veličiny v nanosvete pomocou upravenej metódy bezkontaktnej silovej mikroskópie. Výsledkom je nová metóda, ktorá umožňuje zmerať presnejšie vektorové veličiny na subatomárnej úrovni.

Práca v Nature Physics je výsledkom spolupráce so skupinou prof. Yasuhiro Sugawaru z katedry aplikovanej fyziky v Osake, s ktorou má tím prof. Ivana Šticha dlhoročnú spoluprácu a pre ktorú robí počítačové modelovanie. Táto spolupráca už priniesla v minulosti viaceré významné výsledky v ďalších vysokoimpaktovaných časopisoch Nature Communications a Nano Letters.

Teraz v článku v Nature Physics priamo výpočtom overovali sily pôsobiace medzi hrotom mikroskopu a atómami povrchu germánia a dokázali objasniť chemickú identitu a morfológiu hrotu mikroskopu, ako aj zodpovedať nejasnosti ohľadne vzdialeností hrot-vzorka.

Schopnosť merať  vektorové veličiny na subatomárnej škále je pritom dôležitá, ak chceme nanomateriálom lepšie porozumieť a aplikovať ich. Predpokladá sa, že metóda otvorí nové okno pre materiály na subatomárnej škále, umožní lepšie pochopenie morfológie povrchov, ich chemického zloženia, chemických reakcií na ich povrchoch, prispeje k zlepšeniu techník atomárnej a molekulárnej manipulácie a k lepšiemu pochopeniu správania sa nanostrojov.

Vo fyzike sú tri rôzne typy veličín: takzvané skalárne, ktoré sú jednoduchými číslami, vektorové veličiny, ktoré majú smer - ako napríklad sila či magnetický moment a tenzorové veličiny, ktoré sú zovšeobecnením vektorov. Práve fyzikom sa teraz podarilo ukázať, ako ich na subatomárnej úrovni nielen odhadovať. Pritom práve sledovanie týchto vektorových veličín je dôležité, ak chceme nanomateriálom lepšie porozumieť a potom ich používať.

Yoshitaka Naitoh, Robert Turanský, Ján Brndiar, Yan Jun Li, Ivan Štich, and Yasuhiro Sugawara,        Sub-atomic-scale force vector mapping above a Ge(001) dimer using bimodal atomic force microscopy, v tlači DOI: 10.1038/NPHYS4083.

Čítajte viac: https://tech.sme.sk/c/20505432/su-prvi-na-svete-slovenski-vedci-ukazali-novu-metodu.html#ixzz4dv2Xyntc